返回列表 发布新帖
查看: 6218|回复: 3

硅片不合格现象对生产电池片工艺的影响?

发表于 2010-12-6 19:38:52 | 查看全部 |阅读模式
比如穿孔、切痕、少子寿命、电阻率、应力、沾污、孪晶、氧化膜未磨到、微晶,这些分别对电池片生产工艺都有什么影响,具体分析。
 楼主| 发表于 2010-12-7 21:05:59 | 查看全部
没人知道吗?拜托一定要不吝赐教呀。
发表于 2010-12-21 09:04:39 | 查看全部
穿孔(低效片或废片)、切痕(VOC变小)、少子寿命(是一个宏观缺陷的参考值)、电阻率(影响RS)、应力(碎片率高或隐裂)、沾污(VOC小或低效片)、孪晶(低效片)、氧化膜未磨到(RS变小)、微晶(严重是低效片).
这些都是一些缺陷.
发表于 2011-8-27 12:52:00 | 查看全部
3楼说的比较全面。
孪晶片要看孪晶的面积,直接单晶硅一般是一条孪晶线,对效率影响不大,但全观有影响。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

投诉/建议联系

爆料/投稿:8328 6054 @qq.com

举报/投诉:刘先生/158 5085 4264(微信同号) 商务/合作:夏 云/151 8971 7421(微信同号) 未经授权禁止转载,复制和建立镜像,
如有违反,追究法律责任
  • 阳匠学社
    微信公众号
  • 阳匠网
    微信公众号
阳匠网丨社区 © 2001-2025 Discuz! Team. Powered by Discuz! W1.5 苏ICP备2023010470号
关灯 在本版发帖
扫一扫添加微信客服
返回顶部
快速回复 返回顶部 返回列表