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太阳能光伏组件 PID Tests
这是欧美最新一种测试体系,可测量潜在性能衰退效应(PID potential induced degradation ), PID效应是一种因高强度负电压不断通过而使组件性能降低的现象。 在测试中,来自现有生产系列的组件被连接到1000伏特的电压上,时间为7天。为获得更精准的比较值,组件覆盖了一层铝箔,且测试环境为25摄氏度的恒温。通过测试的组件会失去不到5%的额定容量(nominal capacity)。
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