多晶硅表面微硅尘的测定浊度计法-2024.05

发表于 2024-6-7 17:27:21 | 查看全部 |阅读模式

多晶硅表面微硅尘的测定浊度计法-2024.05

本文件规定了硅多晶表面微硅尘的测定。
本文件适用于硅多晶破碎后表面微硅尘浊度的测定,检测下限为0.1WTU。

QQ截图20240607171630.png

【下载须知】如多个分包，请将全部附件，下载到同一文件夹，再行解压
【解压密码】bbs.21spv.com

3.46 MB, 阅读权限: 10, 下载次数: 1

售价: 1 下载券 [记录]

关于我们

投诉/建议联系

举报/投诉：刘先生/158　5085　4264（微信同号）商务/合作：夏　云/151　8971　7421（微信同号）未经授权禁止转载，复制和建立镜像，
如有违反，追究法律责任