光伏PV组件和系统失效机理的有关问题及对非晶硅薄膜太阳能电池的研究

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特别邀请15位来自中、美、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国及地区专家作培训讲座与技术交流，具体事宜通知如下：

时间：2009年7月6日-10日 苏州 独墅湖高教区
参加对象：失效分析工程师、可靠性工程师、研发与工程技术人员、质量工程师、工艺工程师、制造工程师、设计工程师、供应商管理工程师、研发/工程/采购/质量经理、研究员、相关专业教授、博士生、研究生等。
承办执行单位：华碧检测（FA LAB）
承办执行独家协助单位：北京怀远文化传媒有限公司
培训证书：IEEE IPFA2009技术委员会培训证书/中国电子电器可靠性工程协会培训证书
注：IPFA2009介绍
第16届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议（IPFA2009）由IEEE南京分会主办，IEEE Reliability/CPMT/ED新加坡分会协办、由IEEE 电子器件协会与IEEE可靠性协会提供技术支持。IPFA2009是在中国举办的有关集成电路与器件方面规模最大、影响最大的国际会议。会议将为期五天，包括两天的技术培训讲座、三天的论文发表与研讨技术交流，同时并行三天的设备展览。

培训讲座议程 (2009年7月6-7日)（拟）

(具体内容,讲师简介及日程安排请见附件)

如果您需要咨询，请联系IPFA 2009组委会秘书处，邮箱：hywh@ceeacea.org.cn 或者致电010-67642668，010-52259806. 丁先生，罗小姐.欢迎登陆网址：http://www.ceeacea.org.cn
以寄信日期，发送邮件或传真日期为准
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2009年7月6日--两个课程同时进行        2009年7月7日--两个课程同时进行
早上8:30开始        课题1:光发射与光学显微技术在集成电路失效分析中的应用Jacob C.H.Phang教授，新加坡国立大学        课题5：光伏PV组件和系统失效机理的有关问题Liang Ji , UL, 美国        课题2： BiCMOS / CMOS静电放电（ ESD ）保护工艺：概况，测试和设计J.J. Liou教授，中佛罗里达大学, 美国        课题6：先进非挥发性存储器技术及其可靠性Guoqiao Tao博士，NXP, 荷兰
下午13：30开始        课题3：失效分析概述及其挑战Susan Li博士，飞索半导体，美国        课题7：对非晶硅薄膜太阳能电池的研究 Sheng Tao博士,AMAT, 中国        课题4: 材料科学在电子封装失效分析中的应用Tim Fai Lam博士，飞索半导体，中国        课题8：栅介质可靠性：物理击穿及统计分析Ernest Wu博士，IBM, 美国

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研讨会议程（2009年7月8-10日）（拟）
2009年7月8号        2009年7月9号        2009年7月10号
早晨8:30---10:15会议 1:开幕典礼        早晨8:30---10:15会议 5:光伏、光电技术、可靠性和失效机理        早晨8:30---10:15会议 9:新型栅堆叠/栅介质，FEOL可靠性及其失效机理
茶歇10:15        茶歇10:15        茶歇10:15
上午10:35---12:20会议2:先进物理分析技术与失效分析技术1        上午10:35---12:20会议6:芯片级、封装级、板级、系统级的工艺与技术、失效分析案例研究以及失效机理研究2        上午10:35---12:20会议10:新兴材料特性、样品制备与检测分析技术
午餐12:20        中午12:35---下午3:10会议7:午餐/ 论文海报/失效分析照片欣赏        午餐12:20
下午1:40---3:10会议 3:芯片级、封装级、板级、系统级的工艺与技术、失效分析案例研究以及失效机理研究1                下午1:40---3:10会议11:先进的可靠性评估和方法
茶歇3:10        茶歇3:10        茶歇3:10
下午3:30---5:00会议4:先进互连技术和BEOL可靠性及其失效机理        下午3:30---5:00会议8:先进物理分析技术与失效分析技术2        下午3:30---5:00会议12:新颖器件技术与可靠性及失效机理
                闭幕典礼