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等离子刻蚀中的重要参数

发表于 2011-5-19 19:07:44 | 查看全部 |阅读模式

离子束刻蚀反应室
14.5" SS 安装在左侧的立方体
离子枪
12 cm DC 离子枪 (Veeco),由直流电动机驱动SS快门的MPS 5001提供500 W 供电电源, 安装在反应室顶部。
真空计
主反应室: WRG D NW 25, Baratron 型 626A 0.1 Torr
6” 工作台
直径6.5" ,OFHC 铜 + 不锈钢水冷与0-90度旋转工作台组合(差动泵)
晶片装载/卸载
手动
Cu的刻蚀速率
@ 1000V/150ma
20 nm/min
Si的刻蚀速率
@ 1000V/150ma
30 nm/min
刻蚀均匀性
±5% (4“以上)
操作
全自动化,处方驱动,电脑控制及互锁,实验室观看软件。
底面压力
6 x10-7 Torr (2 天)
5x 10-6 Torr < 20 分钟
MFC
Ar
压力调节
Turbo Speed
隔离阀
6” VAT 气动阀
RIE刻蚀系统
RIE反应室
直径13” 铝制反应室,安装在右侧。
RF 工作台
8“,阳极氧化,暗区保护。
工作台冷却
水冷,无通过冷却剂到地面的直接通路。
气体分配
喷淋头
真空计
1Torr Baratron,和 BOC Edwards 宽频真空计。
底面压力
6 x10-7Torr (2 天)
~10-6 Torr < 20 分钟
MFC
CHF3, CF4,O2, SF6






















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